一、帶程序的芯片

1、EPROM芯片一般不宜損壞。因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序， 故在測(cè)試中不會(huì)損壞程序。但有資料介紹：因制作芯片的材料所致，隨著時(shí)間的推移（年頭長(zhǎng)了），即便不用也有可能損壞（主要指程序）。所以要盡可能給以備份。

2、EEPROM，SPROM等以及帶電池的RAM芯片，均極易破壞程序。這類芯片是否在使用<測(cè)試儀>進(jìn)行VI曲線掃描后，是否就破壞了程序，還未有定論。盡管如此，同仁們?cè)谟龅竭@種情況時(shí)，還是小心為妙。筆者曾經(jīng)做過(guò)多次試驗(yàn)，可能大的原因是：檢修工具（如測(cè)試儀，電烙鐵）的外殼漏電所致。

3、對(duì)于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來(lái).

二、復(fù)位電路

1、待修電路板上有大規(guī)模集成電路時(shí)，應(yīng)注意復(fù)位問(wèn)題。

2、在測(cè)試前最好裝回設(shè)備上，反復(fù)開，關(guān)機(jī)器試一試。以及多按幾次復(fù)位鍵。

三、功能與參數(shù)測(cè)試

1、<測(cè)試儀>對(duì)器件的檢測(cè)，僅能反應(yīng)出截止區(qū)，放大區(qū)和飽和區(qū)。但不能測(cè)出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等。

2、同理對(duì)TTL數(shù)字芯片而言，也只能知道有高低電平的輸出變化。而無(wú)法查出它的上升與下降沿的速度。

四、晶體振蕩器

1、通常只能用示波器（晶振需加電）或頻率計(jì)測(cè)試，萬(wàn)用表等無(wú)法測(cè)量，否則只能采用代換法了。

2、晶振常見故障有：1）內(nèi)部漏電2）內(nèi)部開路3）變質(zhì)頻偏4）外圍相連電容漏電。這里漏電現(xiàn)象，用<測(cè)試儀>的VI曲線應(yīng)能測(cè)出。

3、整板測(cè)試時(shí)可采用兩種判斷方法：1）測(cè)試時(shí)晶振附近既周圍的有關(guān)芯片不通過(guò)2）除晶振外沒找到其它故障點(diǎn)。

4、晶振常見有2種：兩腳、四腳，其中第2腳是加電源的，注意不可隨意短路。

五、故障現(xiàn)象的分布

1、電路板故障部位的不完全統(tǒng)計(jì)：

1）芯片損壞30%，

2）分立元件損壞30%，

3）線（PCB板敷銅線）斷裂30%，

4）程序破壞或丟失10%（有上升趨勢(shì)）。

2、由上可知，當(dāng)待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問(wèn)題時(shí)，又沒有好板子，既 不熟悉它的連線，找不到原程序。此板修好的可能性就不大了。